Tender Notice
Notice ID: 15dd249c-4970-4390-aee4-1134939673a7
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Die Friedrich-Schiller-Universität Jena sucht ein Raster-Kraft-Mikroskop. Das Gerät soll die Charakterisierung von nanostrukturierten Oberflächen ermöglichen. Anregung erfolgt mit Laserstrahlung im sichtbaren bis infraroten Bereich. Es wird eine laterale Ortsauflösung von 30 nm angestrebt. Die Vermessung erfolgt über das gestreute optische Nahfeld. Technische Leistungsparameter aus Anlage 2 sind mindestens zu erfüllen. Das Angebot muss Eigenerklärungen enthalten. Diese betreffen Ausschlussgründe nach GWB und EU-Verordnung. Es sind Nachweise zur Eintragung ins Handelsregister vorzulegen. Weiterhin sind Angaben zu Umsätzen und eine Betriebshaftpflichtversicherung erforderlich. Drei vergleichbare Referenzaufträge der letzten 3 Geschäftsjahre müssen beigefügt werden.
Beschaffung eines Raster-Kraft-Mikroskops. Charakterisierung nanostrukturierter Oberflächen. Lateralen Ortsauflösung von 30 nm.
Bidder Requirements
- Referenzen nach §75 Abs. 5 VgV
- Mindestjahresumsatz nach §45 VgV
Role Qualifications
- Architekt mit Bauvorlageberechtigung
- Ingenieur mit 5 Jahren Erfahrung
Besondere Bedingungen
- Ausschluss gemäß §§ 123, 124 GWB, §§ 56, 57 VgV sowie Artikel 5 k) Absatz 1 der Verordnung (EU) Nr. 833/2014
- Angebote die Mindestspezifikationen nicht erfüllen werden ausgeschlossen
- Schriftliche Erklärungen und Nachweise erforderlich
- Kauf auf Rechnung, 30 Tage Zahlungsziel
- Vorauszahlung gegen Bankbürgschaft vereinbar
- Bankbürgschaft eines europäischen Kreditinstituts, selbstschuldnerisch und unbefristet
- Rügen ausschließlich per E-Mail an vergabestelle@uni-jena.de
- Nachprüfungsantrag bei Vergabekammer Weimar