Beschaffung von AFM Spitzen für das Bruker InsightCAP AFM am Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme ENAS in Chemnitz.

Das Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme ENAS schreibt die Beschaffung von AFM Spitzen aus. Diese werden für die Oberflächencharakterisierung von Wafern während der Prozessierung am Bruker InsightCAP AFM im Labor 320 benötigt. Das Institut ist spezialisiert auf die Entwicklung von Smart Systems, Mikro- und Nanosensoren sowie Systemintegrationstechnologien.

Beschaffung von AFM Spitzen für das Bruker InsightCAP AFM im Labor 320 des Fraunhofer-Instituts für Elektronische Nanosysteme ENAS in Chemnitz.