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Das Fraunhofer ENAS schreibt die Lieferung einer 4,5-Zoll-Probekarte aus. Diese wird für Hochleistungsprüfungen an 150-mm- und 200-mm-Wafern benötigt. Eine wesentliche Anforderung ist die Anpassung des Designs der Probekarte an das jeweilige Layout des zu prüfenden Wafers.
Beschaffung einer 4,5-Zoll-Probekarte für Hochleistungsprüfungen an 150-mm- und 200-mm-Wafern. Das Design der Probekarte muss spezifisch an das jeweilige Layout des Wafers angepasst werden.
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Notice ID: 26037394