Beschaffung eines modularen Rasterkraftmikroskops (AFM) für die RPTU Kaiserslautern-Landau zur hochauflösenden Oberflächencharakterisierung und Nanomechanik-Analyse.

Die Rheinland-Pfälzische Technische Universität Kaiserslautern-Landau schreibt den Kauf eines fabrikneuen, modular erweiterbaren Rasterkraftmikroskops (AFM) aus. Das System ist für hochauflösende Oberflächencharakterisierungen sowie für quantitative Untersuchungen der mechanischen, adhäsiven, tribologischen und elektrischen Eigenschaften von Partikeln, Fasern, Membranen, beschichteten Oberflächen und biologischen Proben vorgesehen. Besondere Schwerpunkte liegen auf Kraftspektroskopie, lokaler Nanomechanik sowie Untersuchungen in Flüssigkeiten. Die Messdaten dienen der Parametrisierung und Validierung physikalischer Modelle. Bieter müssen wissenschaftliche Referenzen in Form von mindestens 20 peer-reviewten Publikationen der letzten fünf Jahre nachweisen.

Kauf eines fabrikneuen, modular erweiterbaren Rasterkraftmikroskops (AFM) für die Rheinland-Pfälzische Technische Universität Kaiserslautern-Landau. Das Gerät dient der hochauflösenden Oberflächencharakterisierung sowie der quantitativen Untersuchung mechanischer, elektrischer und tribologischer Eigenschaften von Proben.