Tender Notice

Notice ID: 6e10353b-465b-42ae-b81b-80f4825c4689

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Sascha Bahlau

Sascha Bahlau

CEO

LOUPZ GmbH & Co. KG

Published
22d ago
Today
Submission
in 10d
Contract Start
in 233d
09126 Duisburg
Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12 (München)
Project Overview

Vergabe von automatisierter Wafer-Prober-Ausrüstung. Der Vertrag umfasst die Lieferung einer automatisierten Wafer-Prober-Einheit. Angeboten wird die Beschaffung eines solchen Geräts. Die Ausschreibung richtet sich an geeignete Bieter. Es gelten verschiedene Ausschlussgründe und Eignungskriterien. Die Bieter müssen Referenzen vorlegen. Die Firma muss ihre Darstellung einreichen. Eigenerklärungen zu Ausschlussgründen sind erforderlich. Der Umsatz der letzten drei Geschäftsjahre muss dargelegt werden. Die Angebotsfrist endet am 03.03.2026. Die Laufzeit des Angebots ist auf 2 Monate festgelegt. Die Leistungserbringung ist ab dem 12.10.2026 geplant.

Automated wafer prober (IMS-04). Procurement of an automated wafer prober. Supplies contract for a wafer prober.

Project Location
09126 Duisburg, DEU
Finanzen
Geschätztes Honorar 2,00 €
Eignung

Bidder Requirements

  • Referenz von mindestens 3 vergleichbaren Projekten (Kurzbeschreibung, Gerät, Kundennennung) nicht älter als aus dem Jahr 2023
  • Darstellung der Firma Mindestangaben: Gründungsjahr, wichtige Meilensteine des Unternehmens, Anzahl der Mitarbeiter, was wird hergestellt / welche Leistungen werden erbracht --> Alle Angaben bitte in Textform, KEINE Links oder Bilder.
  • 1. Eigenerklärung über das Nichtvorliegen von Ausschlussgründen nach § 123 und § 124 GWB
  • 2. Eigenerklärung-Selfdeclaration (EU) Nr. 833/2014
  • Umsatz der letzten 3 Geschäftsjahre
Technische Details

Besondere Bedingungen

  • Bei evtl. Einsatz von Nachunternehmern sind diese zu benennen, ihre Eignung ist ebenfalls anhand der unter "Ausschreibungsbedingungen" aufgeführten Eignungskriterien nachzuweisen. Ferner ist zu bestätigen, dass sie im Auftragsfall zur Verfügung stehen; deren Anteil am Umfang des Auftragsgegenstandes ist darzulegen.
Original Title: Automated wafer prober (IMS-04) - PR1119714-2380-P
deen