Tender Notice

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beschafft ein Lichtmikroskop. Dieses dient der Inspektion von Lack- und Wellenleiterstrukturen. Die PIC in Lithiumniobat auf Siliziumsubstraten sind zu prüfen. Das Mikroskop soll für schnelle Inspektion optimiert sein. Es ermöglicht Messung charakteristischer Längen. Prüfung typischer Fehlerbilder wie Partikel oder Schichtfehler ist möglich. Die technischen Leistungsparameter sind zu erfüllen. Die Lieferfrist beträgt maximal 12 Wochen. Die Vergabe erfolgt als Gesamtheit. Es gelten die ZVB und VOL/B. Deutsches Recht und ThürVgG sind anwendbar. Eine Nachprüfungsbehörde ist genannt.

Beschaffung eines Lichtmikroskops für Inspektion von Lack- und Wellenleiterstrukturen. Schnelle Inspektion und Messung charakteristischer Längen. Prüfung typischer Fehlerbilder.