Notice ID: d1702e4d-86ac-4c63-a6bd-1d0dbd769b15
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Beschaffung eines spektroskopischen Imaging-Ellipsometers (ES) integriert mit einem Rasterkraftmikroskop (AFM) am Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf. Das System soll optische, magnetische und strukturelle Eigenschaften von Materialien analysieren. Es muss über ein bildgebendes variable angle spectroscopy System im Spektralbereich von 190 bis 1700 nm verfügen. Die laterale Auflösung soll besser als 2 µm sein. Das System muss automatische Probenausrichtung, hochpräzisen goniometrischen Aufbau für variable Einfallswinkelmessungen (40-90 Grad) und Knife-Edge-Beleuchtung bieten. Lieferumfang: Lieferung, Installation, Anwender-Schulung (OST), 12 Monate Garantie, Dokumentation. Der Preis ist das einzige Zuschlagskriterium.
Beschaffung eines spektroskopischen Imaging-Ellipsometers mit Rasterkraftmikroskop. Messung optischer, magnetischer, struktureller Eigenschaften. Erfassung von Oberflächenmorphologie.
Bidder Requirements
Role Qualifications
Besondere Bedingungen