Beschaffung eines höchstauflösenden Rasterkraftmikroskops (AFM) für die Universität Bayreuth zur hochauflösenden Oberflächencharakterisierung in Forschungsanwendungen.

Die Universität Bayreuth schreibt die Beschaffung eines höchstauflösenden Rasterkraftmikroskops (AFM) aus. Das System muss sämtliche für den Betrieb erforderlichen Hard- und Softwarekomponenten umfassen. Der Einsatzzweck liegt in der hochauflösenden Charakterisierung von Oberflächen und Grenzflächen auf Nano- und atomarer Skala, insbesondere für 3D-AFM-Messungen in Flüssigkeiten sowie driftarme Langzeitmessungen im Forschungsbetrieb. Die Beschaffung erfolgt aufgrund einer zeitlich begrenzten Marktsituation mit verkürzter Angebotsfrist, um wirtschaftliche Vorteile durch kurzfristig verfügbare Lager- oder Vorführgeräte zu nutzen.

Beschaffung eines höchstauflösenden Rasterkraftmikroskops (AFM) inklusive Hard- und Software für die hochauflösende Charakterisierung von Oberflächen und Grenzflächen auf Nano- und atomarer Skala in Forschungsanwendungen.