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Das Leibniz-Institut für Polymerforschung Dresden e.V. (IPF) schreibt die Beschaffung eines Röntgen-Photoelektronenspektrometers (XPS) aus. Das Gerät soll für qualitative und quantitative Untersuchungen zur stofflichen Zusammensetzung von festen Oberflächen und oberflächennahen Schichten eingesetzt werden. Anforderungen umfassen eine hohe energetische Auflösung (High-resolution XPS), Imaging-Funktionen zur lateralen Verteilung von Elementen sowie Möglichkeiten für Tiefenanalysen (Sputtern) und spezielle Messmodi wie Cryo-XPS und Messungen bei erhöhten Temperaturen (> 300 °C). Das Spektrometer soll für eine Vielzahl von Materialien geeignet sein, darunter Polymere, Metalle, Keramiken und Kohlenstoff-Allotrope.
Beschaffung eines Röntgen-Photoelektronenspektrometers (XPS) für das Leibniz-Institut für Polymerforschung Dresden e.V. zur qualitativen und quantitativen Analyse von Oberflächen und Schichten.