Ausschreibung

Bekanntmachungs-ID: 076e7951-fd3d-4a20-892c-a7072cdaccb5

Finde und Verstehe Ausschreibungen 3x schneller

Erstellen Sie ein kostenloses Konto oder melden Sie sich an, um Ausschreibungen in Ihrer Liste zu speichern.

Teste auf tenderzen.de Anmelden

"Mit Zen AI konzentrieren wir uns gezielt auf relevante Projekte und sparen wertvolle Zeit."

MK

Mario Kötter

Projektleiter

cadventure GmbH

Veröffentlicht
Heute
Teilnahme
in 25T
10587 Berlin
Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12 (München)
vergabe.fraunhofer.de
Projektübersicht

Die Fraunhofer-Gesellschaft schreibt die Beschaffung eines feldfreien (ohne Immersionsoptik) fokussierten Ionenstrahlsystems (FIB-SEM) in Kombination mit einem hochauflösenden Rasterelektronenmikroskop aus. Das System dient der Strukturierung, Nanostrukturierung sowie der Querschnitts- und Oberflächenanalyse von III/V-Halbleitern, LNOI, Polymeren und Resists. Der Leistungsumfang umfasst die Lieferung, Installation sowie die Durchführung von Raummessungen (Bodenvibrationen, akustische und magnetische Störungen) am Aufstellungsort in Berlin. Der Bieter ist verpflichtet, die Einhaltung der Gerätespezifikationen durch entsprechende Vorbereitungsmaßnahmen sicherzustellen. Optional sind eine 15-tägige Fortgeschrittenenschulung, ein Gasinjektionssystem sowie ein Softwaremodul zum Import von KLAF-Dateien enthalten.

Beschaffung eines feldfreien FIB-SEM Dualbeam-Systems inklusive Installation und Durchführung von Raummessungen (Bodenvibrationen, akustische und magnetische Störungen) am Standort Berlin.

Standort Projekt
Einsteinufer 37, 10587 Berlin, Deutschland
Eignung

Anforderungen an den Bieter

  • Nachweis von mindestens drei vergleichbaren Referenzprojekten aus den letzten fünf Jahren im Bereich Plasma-FIB Anlagen
  • Vorlage einer Eigenerklärung über das Nichtvorliegen von Ausschlussgründen nach §123 und §124 GWB
  • Vorlage der Eigenerklärung gemäß EU-Verordnung Nr. 833/2014
  • Nachweis des Umsatzes der letzten drei Geschäftsjahre
Technische Details

Besondere Bedingungen

  • Einsatz von Nachunternehmern muss benannt und deren Eignung nachgewiesen werden
  • Zulässigkeit von elektronischer Rechnungsstellung
  • Keine Zulassung von elektronischen Katalogen
Originaltitel: FIB & SEM system (HHI-01) - PR1216644-3220-P
deen