Ausschreibung

Die Fraunhofer-Gesellschaft beschafft ein Rasterelektronenmikroskop (REM) für das Institut in Erlangen. Das Gerät ist für die Materialcharakterisierung von (ultra-)breiten Bandlücken-Materialien vorgesehen. Zu den technischen Anforderungen gehören eine hohe laterale Auflösung im Sub-Nanometer-Bereich, eine umfassende Detektorausstattung (SE, BSE, In-Lens), eine feldfreie Objektivlinse sowie eine leistungsfähige Software für automatisierte Datenerfassung, Workflow-Steuerung und Skripting-Funktionen (Python). Zudem sind Optionen für ECP-Auswertungssoftware, Plasma-Reiniger und spezielle Analysesoftware für geschichtete Proben gefordert.

Beschaffung eines Rasterelektronenmikroskops (REM) für die Materialanalyse, insbesondere für (ultra-)breite Bandlücken-Materialien. Das System muss hochauflösende Bildgebung, automatisierte Datenerfassung und spezielle Softwarelösungen für ECCI- und CL-Analysen unterstützen.