Bekanntmachungs-ID: 25321768
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Das Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme ENAS schreibt TEM-Messungen aus. Gegenstand der Ausschreibung sind hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie-Untersuchungen (TEM) von Querschnitten an Sensorbauteilen und Feldeffekttransistoren. Ziel ist die detaillierte Analyse von Metall-Oxid- und CNT-Grenzflächen im Rahmen der Entwicklung von Smart Systems.
Beschaffung von hochauflösenden TEM-Untersuchungen von Querschnitten an Sensorbauteilen und Feldeffekttransistoren zur Analyse von Metall-Oxid- und CNT-Grenzflächen für das Fraunhofer ENAS.