Ausschreibung

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CT

Christin Tech

Geschäftsführerin

Cybay New Media GmbH

Beschaffung eines FIB-SEM Dualbeam-Systems inklusive Raummessungen und Installationsvorbereitungen für die Halbleiterforschung am Standort Berlin.

Lieferungen National FIB-SEMRasterelektronenmikroskopHalbleitertechnikNanostrukturierungDualbeam-System
Veröffentlicht
vor 25T
Heute
Teilnahme
in 4T
10587 Berlin
Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12 (München)
vergabe.fraunhofer.de
Projektübersicht

Die Fraunhofer-Gesellschaft schreibt die Beschaffung eines feldfreien FIB-SEM Dualbeam-Systems (HHI-01) aus. Das System dient der Strukturierung, Nanostrukturierung sowie der Querschnitts- und Oberflächenanalyse von III/V-Halbleitern, LNOI, Polymeren und Resists. Der Leistungsumfang umfasst neben der Lieferung und Installation auch die Durchführung von Raummessungen (Bodenvibrationen, akustische und magnetische Störungen) am Standort Einsteinufer 37 in Berlin, um die Einhaltung der Gerätespezifikationen zu gewährleisten. Optionale Leistungen beinhalten eine 15-tägige Fortgeschrittenenschulung, ein Gasinjektionssystem sowie ein Softwaremodul zum Import von KLAF-Dateien.

Beschaffung eines feldfreien FIB-SEM Dualbeam-Systems zur Nanostrukturierung und Analyse von Halbleitermaterialien. Inklusive Raummessungen hinsichtlich Bodenvibrationen, akustischer und magnetischer Störungen sowie Installationsvorbereitungen am Standort Berlin.

Standort Projekt
Einsteinufer 37, 10587 Berlin, Deutschland
Eignung

Anforderungen an den Bieter

  • Nachweis von mindestens drei vergleichbaren Referenzprojekten aus den letzten fünf Jahren (Plasma-FIB Anlagen mit Xenon)
  • Eigenerklärung über das Nichtvorliegen von Ausschlussgründen nach §123 und § 124 GWB
  • Eigenerklärung gemäß (EU) Nr. 833/2014
  • Darstellung der Firma (Gründungsjahr, Mitarbeiterzahl, Leistungsspektrum)
Technische Details

Besondere Bedingungen

  • Einsatz von Nachunternehmern muss benannt und deren Eignung nachgewiesen werden
  • Zuschlagskriterien: 50% Technik, 10% Nachhaltigkeit, 40% Preis
Originaltitel: FIB & SEM system (HHI-01) - PR1216644-3220-P
deen