Beschaffung eines 2D-Röntgenmikroskops für die Fraunhofer-Gesellschaft zur zerstörungsfreien Prüfung von eingebetteten Schaltkreisen und Leistungselektronik-Baugruppen.

Die Fraunhofer-Gesellschaft schreibt die Lieferung eines 2D-Röntgenmikroskops aus. Das System ist für die zerstörungsfreie 2D-Röntgeninspektion von Komponenten vorgesehen, die von Kleinteilen bis zu mittelgroßen Baugruppen reichen. Ein besonderer Fokus liegt auf der Untersuchung von eingebetteten Schaltkreisen mit Strukturen im niedrigen einstelligen Mikrometerbereich (z.B. MEMS-Packaging, Wafer-Molding, Chip-in-Polymer). Zudem wird eine hohe Leistungsreserve für die Prüfung von Leistungselektronik-Baugruppen mit bis zu 6 mm dicken Kupferschichten benötigt. Die Auftragsvergabe erfolgt nach technischer Bewertung (65%) und Preis (35%).

Beschaffung eines 2D-Röntgenmikroskops für die zerstörungsfreie Prüfung von Bauteilen, insbesondere für eingebettete Schaltkreise im Mikrometerbereich und Leistungselektronik mit dicken Kupferschichten.