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Das Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen (IMWS) schreibt die Lieferung eines hochmodernen nano-XCT Röntgenmikroskopie-Systems (XRM) aus. Das Gerät dient der zerstörungsfreien Detektion und Bewertung von Strukturabweichungen, Kontaktfehlern und Schadensmerkmalen in hochintegrierten 2.5/3D-Bauelementen. Der Lieferumfang umfasst das Komplettsystem inklusive Montage, Inbetriebnahme, Software und notwendiger Zertifizierungen. Optionale Erweiterungen wie Scanning-Beugungskontrasttomographie und spezialisierte Softwaremodule sind Teil der Anforderungen.
Lieferung eines funktionsfähigen nano-XCT Röntgenmikroskopie-Systems (XRM) für das Fraunhofer IMWS zur zerstörungsfreien Fehleranalyse und Materialcharakterisierung an elektronischen Bauelementen.
Anforderungen an den Bieter
Besondere Bedingungen