Beschaffung eines Halbleiter-Testsystems (Mixed-Signal) für das Fraunhofer EMFT, inklusive Kompatibilität zum Advantest V93000 System für Post-Silicon-Verifizierung und Funktionstests.

Die Fraunhofer-Gesellschaft schreibt die Lieferung eines Semiconductor-Testsystems (Mixed-Signal-Testsystem) für das Fraunhofer EMFT aus. Das System dient der Post-Silicon-Verifizierung, Charakterisierung sowie dem Funktionstest von integrierten Schaltkreisen und Chiplets. Zentrale Anforderung ist die Hard- und Software-Kompatibilität zu einem bereits vorhandenen Advantest V93000 Testsystem innerhalb der Fraunhofer-Gesellschaft. Zudem muss das System Schnittstellen für den Anschluss an industrielle Standard-Wafer-Probing-Systeme sowie Device-Handling-Systeme aufweisen. Die Vergabe erfolgt nach technischen Kriterien (65%) und Preis (35%).

Beschaffung eines Halbleiter-Testsystems (Mixed-Signal-Testsystem) für das Fraunhofer EMFT zur Post-Silicon-Verifizierung, Charakterisierung und für Funktionstests von integrierten Schaltkreisen und Chiplets. Das System muss mit einem bestehenden Advantest V93000 Testsystem kompatibel sein und Schnittstellen für Wafer-Probing- und Device-Handling-Systeme bieten.