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Das Fraunhofer-Institut für Lasertechnik ILT beabsichtigt die Beschaffung eines konfokalen Raman-Mikroskops zur mikro- und nanoskaligen Vermessung. Ebenso wird ein Rasterkraftmikroskop (AFM) zur nanoskaligen Vermessung der Topografie und elektrischen Eigenschaften benötigt. Angebote müssen beide Artikel vom gleichen Hersteller beinhalten. Weitere Details sind dem Leistungsverzeichnis zu entnehmen. Eignungskriterien umfassen Umsatz, Referenzen für vergleichbare Systeme und die Nachweisbarkeit korrelativer Messungen. Zuschlagskriterien sind Spezifikationserfüllung, Preis und Nachhaltigkeit.
Beschaffung eines konfokalen Raman-Mikroskops und eines Rasterkraftmikroskops. Beide Systeme vom gleichen Hersteller. Für Mikro- und nanoskalige Vermessung.
Anforderungen an den Bieter
Besondere Bedingungen