Beschaffung eines Millimeterwellen-Interferometriemessplatzes für die Technische Universität Hamburg zur Charakterisierung von Hochfrequenzkomponenten und Radarsystemen bis 170 GHz.

Die Technische Universität Hamburg schreibt die Beschaffung eines Millimeterwellen-Interferometriemessplatzes aus. Das Gerät muss für den wissenschaftlichen Laborbetrieb geeignet sein und Funktionen für Netzwerkanalyse, Spektral-/Signalanalyse sowie analoge und vektorielle Signalgeneration bis 170 GHz bieten. Einsatzgebiete sind die experimentelle Untersuchung von Millimeterwellen-Interferometrie und Radar, insbesondere die Analyse von Nichtlinearitäten, Mehrfachreflexionen, Phasen- und Amplitudenfehlern sowie Antenne-Funkkanal-Ziel-Wechselwirkungen in kontrollierten Freiraum- und Nahfeldszenarien.

Beschaffung eines vollständig funktionsfähigen, kalibrierbaren Millimeterwellen-Interferometriemessplatzes für den wissenschaftlichen Laborbetrieb. Das System dient der Charakterisierung von Hochfrequenzkomponenten, Radarsystemen und Antennen bis 170 GHz.