Ausschreibung

Die Fraunhofer-Gesellschaft schreibt die Lieferung eines Waferprober- / Frameprober-Systems für das Fraunhofer EMFT aus. Das System ist für die Post-Silicon-Verifizierung, Charakterisierung und Funktionstests von integrierten Schaltkreisen und Chiplets vorgesehen. Es muss in der Lage sein, 200mm- und 300mm-Wafer sowie auf Dicing-Frames montierte Wafer zu handhaben. Das Gerät wird in ein automatisiertes Testsystem (ATE) integriert. Die Vergabe erfolgt nach technischen Qualitätskriterien (65%) und dem Preis (35%).

Beschaffung eines Waferprober-Systems für das Fraunhofer EMFT zur Durchführung von Post-Silicon-Verifizierungen, Charakterisierungen und Funktionstests von integrierten Schaltkreisen und Chiplets. Das System muss 200mm- und 300mm-Wafer sowie auf Dicing-Frames montierte Wafer verarbeiten können und für die Kopplung mit einem automatisierten Testsystem (ATE) geeignet sein.