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"Ich finde das Tool so gut, dass ich direkt zwei weiteren Unternehmen davon erzählt habe."
Beschaffung eines Dual-Beam Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops. Mit fokussiertem Gallium-Ionenstrahl (Dual-Beam FE-REM/Ga-FIB). Für die Untersuchung von Werkstoffen und Materialien.
Neubau eines Dual-Beam FE-REM/Ga-FIB. Untersuchung von Werkstoffen und Materialien. An der Universität Rostock am Lehrstuhl für Werkstofftechnik.
Anforderungen an den Bieter
Besondere Bedingungen