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ToF-SIMS 2026 (Neuausschreibung). Gegenstand des Beschaffungsvorhabens ist die Lieferung, Installation, Inbetriebnahme sowie betriebsbereite Übergabe eines Systems zur Sekundärionen-Massenspektrometrie mit Flugzeit-Massenspektrometer (ToF-SIMS) einschließlich Einweisung/Schulung und vollständiger Systemdokumentation. Das System dient als zentrale Analyseplattform für hochaufgelöste chemische Oberflächencharakterisierung, bildgebende Analytik (2D-Imaging) sowie Tiefenprofilierung und 3D-Rekonstruktion. Es umfasst Komponenten wie UHV-Analysekammer, ToF-Massenspektrometer, Analyse-Ionenquelle, Sputter-Ionenquelle, Cluster-Ionenquelle, FIB-Funktion, Ladungskompensation sowie Steuer- und Auswertesoftware.
Lieferung, Installation, Inbetriebnahme sowie betriebsbereite Übergabe eines Systems zur Sekundärionen-Massenspektrometrie mit Flugzeit-Massenspektrometer (ToF-SIMS) für das Institut für Oberflächen- und Schichttechnik GmbH.
Anforderungen an den Bieter
Besondere Bedingungen