Tender Notice

Notice ID: 0d1d0a86-9a58-4dba-840a-816af1e77a4c

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Christin Tech

CEO

Cybay New Media GmbH

Beschaffung eines hochauflösenden Nano-XCT-Systems für das Fraunhofer IMWS zur zerstörungsfreien Fehleranalyse und Materialcharakterisierung elektronischer Komponenten.

Lieferungen EU Nano-XCTRöntgen-ComputertomographieFehleranalyseElektronikprüfungMaterialcharakterisierung

Published

Today

Submission

in 30d

06120 Halle (Saale)

Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | IMWS vertreten durch: Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS (Halle (Saale))

evergabe-online.de

Project Overview

Das Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen (IMWS) schreibt die Lieferung eines hochauflösenden Nano-XCT-Systems aus. Das System dient der zerstörungsfreien Prüfung und Fehleranalyse von elektronischen Komponenten, insbesondere zur Detektion struktureller Abweichungen und Kontaktdefekte in 2.5/3D-Komponenten. Der Auftrag umfasst die Lieferung eines funktionsfähigen Gesamtsystems inklusive Montage, Inbetriebnahme, notwendiger Zertifizierungen und einer leistungsstarken Workstation zur Datenverarbeitung.

Beschaffung eines hochauflösenden Nano-XCT-Systems (Röntgen-Computertomographie) inklusive Montage, Inbetriebnahme und Software für das Fraunhofer IMWS zur Fehleranalyse elektronischer Komponenten.

Project Location

Heideallee 19, 06120 Halle (Saale), Deutschland

Eignung

Bidder Requirements

Jahresumsatz der letzten 3 Geschäftsjahre
Darstellung von maximal drei mit dem Auftragsgegenstand nach Art und Umfang vergleichbaren Auftrag der letzten drei Jahre

Technische Details

Besondere Bedingungen

AEB, NHS sowie Zahlungsbedingungen der FhG sind anzuerkennen
E-Rechnung erlaubt

Original Title: High resolution nano-XCT system