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Das Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen (IMWS) schreibt die Lieferung eines hochauflösenden Nano-XCT-Systems aus. Das System dient der zerstörungsfreien Prüfung und Fehleranalyse von elektronischen Komponenten, insbesondere zur Detektion struktureller Abweichungen und Kontaktdefekte in 2.5/3D-Komponenten. Der Auftrag umfasst die Lieferung eines funktionsfähigen Gesamtsystems inklusive Montage, Inbetriebnahme, notwendiger Zertifizierungen und einer leistungsstarken Workstation zur Datenverarbeitung.
Beschaffung eines hochauflösenden Nano-XCT-Systems (Röntgen-Computertomographie) inklusive Montage, Inbetriebnahme und Software für das Fraunhofer IMWS zur Fehleranalyse elektronischer Komponenten.
Anforderungen an den Bieter
Besondere Bedingungen