Die Fraunhofer-Gesellschaft schreibt die Beschaffung eines hochsensiblen Sekundärionen-Massenspektrometers (SIMS) aus. Das Gerät dient der tiefenaufgelösten chemischen Analyse von Halbleitermaterialien und -strukturen, insbesondere für III-V- und diamantbasierte Bauelementstrukturen sowie epitaktische Schichten auf 150-mm-Substraten. Ziel ist die Unterstützung der Prozessentwicklung, Qualitätskontrolle und Optimierung am Fraunhofer IAF in Freiburg. Die Zuschlagskriterien setzen sich aus 65% Technik und 35% Preis zusammen.
Beschaffung eines hochsensiblen Sekundärionen-Massenspektrometers (SIMS) zur tiefenaufgelösten chemischen Analyse von Halbleitermaterialien und -strukturen am Fraunhofer IAF in Freiburg.
Bidder Requirements
Besondere Bedingungen
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Notice ID: 1dc1d3cb-73e6-4bb6-be73-a74db2b63347