Die Fraunhofer-Gesellschaft schreibt die Beschaffung eines hochsensiblen Sekundärionen-Massenspektrometers (SIMS) aus. Das Gerät dient der tiefenaufgelösten chemischen Analyse von Halbleitermaterialien und -strukturen, insbesondere für III-V- und diamantbasierte Bauelementstrukturen sowie epitaktische Schichten auf 150-mm-Substraten. Ziel ist die Unterstützung der Prozessentwicklung, Qualitätskontrolle und Optimierung am Fraunhofer IAF in Freiburg. Die Zuschlagskriterien setzen sich aus 65% Technik und 35% Preis zusammen.
Beschaffung eines hochsensiblen Sekundärionen-Massenspektrometers (SIMS) zur tiefenaufgelösten chemischen Analyse von Halbleitermaterialien und -strukturen am Fraunhofer IAF in Freiburg.
Anforderungen an den Bieter
Besondere Bedingungen
"Ich finde das Tool so gut, dass ich direkt zwei weiteren Unternehmen davon erzählt habe."
Bekanntmachungs-ID: 1dc1d3cb-73e6-4bb6-be73-a74db2b63347