Tender Notice
Notice ID: 3470dab6-6f68-42c5-8fad-75d3b14b0453
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Ausschreibung für zwei Waferprober zur automatisierten Charakterisierung von Schaltungen im Millimeterwellenbereich bis ca. 250 GHz. Höchste Anforderungen an die Positioniergenauigkeit für Pads von ca. 10µm auf ø300 mm Wafer. Automatische Höhenkorrektur (Z-Profiling) aufgrund von Höhenvariationen um ±10µm erforderlich. Notwendigkeit einer Temperatur-Regelung des Chucks gegeben. Beschaffung von Geräten für angewandte Forschung.
Zwei Waferprober für automatisierte Charakterisierung. Bis ca. 250 GHz Messtechnik. Positioniergenauigkeit von 10µm. Automatische Höhenkorrektur.
Bidder Requirements
- Referenzen
- Darstellung der Firma
- Eigenerklärung über das Nichtvorliegen von Ausschlussgründen nach §123 und § 124 GWB
- Eigenerklärung-Selfdeclaration (EU) Nr. 833/2014
- Umsatz der letzten 3 Geschäftsjahre
Besondere Bedingungen
- Bei evtl. Einsatz von Nachunternehmern sind diese zu benennen, ihre Eignung ist ebenfalls anhand der unter "Ausschreibungsbedingungen" aufgeführten Eignungskriterien nachzuweisen. Ferner ist zu bestätigen, dass sie im Auftragsfall zur Verfügung stehen; deren Anteil am Umfang des Auftragsgegenstandes ist darzulegen.