Tender Notice

Notice ID: 736a6023-f83e-4608-80a6-a7eaddb358f6

Find and understand tenders 3x faster

Create a free account or sign in to save tenders to your list.

"We reduced our weekly tender search from 6 to 2 hours – and found more qualifying tenders."

Sascha Bahlau

Sascha Bahlau

CEO

LOUPZ GmbH & Co. KG

Published
1d ago
Today
Questions
in 20d
Submission
in 29d
15236 Frankfurt (Oder)
IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik (Frankfurt (Oder))
Project Overview

Das IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik schreibt die Lieferung eines halbautomatischen 300-mm-HF-Messsystems für On-Wafer-Messungen bis 250 GHz aus. Das System muss eine kontrollierte Trockenatmosphäre zur Vermeidung von Kondensation, eine definierte Schnittstellenarchitektur für thermische Spannfutter sowie eine automatische Wafergrößenerkennung (150/200/300 mm) bieten. Technische Anforderungen umfassen einen Präzisions-XY-Tisch mit einer Wiederholgenauigkeit von unter 1,0 µm sowie eine integrierte Schwingungsisolierung. Die Vergabe erfolgt nach VgV.

Beschaffung eines halbautomatischen 300-mm-HF-Messsystems für On-Wafer-Messungen bis 250 GHz inklusive integrierter Trockenatmosphäre und Präzisions-Positionierungseinheiten für das IHP Leibniz-Institut.

Project Location
Im Technologiepark 25, 15236 Frankfurt (Oder), Deutschland
Eignung

Bidder Requirements

  • Eintragung in das Handelsregister
  • Referenznachweis für Lieferleistungen
Technische Details

Besondere Bedingungen

  • Registrierung auf dem Vergabemarktplatz Brandenburg für Angebotsabgabe erforderlich
  • E-Rechnung zulässig
Original Title: 300 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
deen