Notice ID: 7f3cc624-18a4-456d-b14d-486b332c35c8
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Ausschreibung für ein Kryo-FIB Elektronenmikroskop zur Materialcharakterisierung. Das System dient der FIB-Querschnittspräparation und hochauflösenden SEM-Bildgebung. Es unterstützt die 3D-Datenerstellung und die Produktion von elektronen-transparenten TEM-Proben. Besondere Berücksichtigung von nicht-leitenden Materialien und biologischen Proben. Automatisierte In-situ-Lift-out-Funktionalität für TEM-Lamellen wird gefordert. Die Installation erfolgt am Fraunhofer IMWS in Halle (Saale).
Neubau eines Kryo-FIB Elektronenmikroskops. Erhöhung der Analysefähigkeiten für neue Integrationstechnologien. Ermöglichung präziser Analyse und Charakterisierung von Materialien.
Bidder Requirements
Role Qualifications
Besondere Bedingungen