Bekanntmachungs-ID: 7f3cc624-18a4-456d-b14d-486b332c35c8
Finde und Verstehe Ausschreibungen 3x schneller
Erstellen Sie ein kostenloses Konto oder melden Sie sich an, um Ausschreibungen in Ihrer Liste zu speichern.
"Ich finde das Tool so gut, dass ich direkt zwei weiteren Unternehmen davon erzählt habe."
Ausschreibung für ein Kryo-FIB Elektronenmikroskop zur Materialcharakterisierung. Das System dient der FIB-Querschnittspräparation und hochauflösenden SEM-Bildgebung. Es unterstützt die 3D-Datenerstellung und die Produktion von elektronen-transparenten TEM-Proben. Besondere Berücksichtigung von nicht-leitenden Materialien und biologischen Proben. Automatisierte In-situ-Lift-out-Funktionalität für TEM-Lamellen wird gefordert. Die Installation erfolgt am Fraunhofer IMWS in Halle (Saale).
Neubau eines Kryo-FIB Elektronenmikroskops. Erhöhung der Analysefähigkeiten für neue Integrationstechnologien. Ermöglichung präziser Analyse und Charakterisierung von Materialien.
Anforderungen an den Bieter
Rollenqualifikationen
Besondere Bedingungen