Tender Notice
Notice ID: c799f2c6-d9b8-4796-9de7-92c53ef7785d
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Die Fraunhofer-Gesellschaft beschafft ein feldfreies (ohne Immersionsoptik) fokussiertes Ionenstrahlsystem (FIB-SEM) in Kombination mit einem hochauflösenden Rasterelektronenmikroskop. Das System dient der Strukturierung, Nanostrukturierung sowie Querschnitts- und Oberflächenanalyse von III/V-Halbleitern, LNOI, Polymeren und Resists. Zum Lieferumfang gehören optional eine 15-tägige Fortgeschrittenenschulung, ein Gasinjektionssystem sowie ein Softwaremodul zum Import von KLAF-Dateien.
Beschaffung eines feldfreien FIB-SEM Dualbeam Systems zur Nanostrukturierung sowie Querschnitts- und Oberflächenanalyse von Halbleitern, Polymeren und Resists.
Bidder Requirements
- Nachweis von mindestens drei vergleichbaren Referenzprojekten aus den letzten fünf Jahren
- Darstellung der Firma (Gründungsjahr, Mitarbeiterzahl, Leistungsspektrum)
- Eigenerklärung über das Nichtvorliegen von Ausschlussgründen nach §123 und §124 GWB
- Eigenerklärung gemäß (EU) Nr. 833/2014
- Nachweis über den Umsatz der letzten 3 Geschäftsjahre
Besondere Bedingungen
- Einsatz von Nachunternehmern muss angezeigt und deren Eignung nachgewiesen werden
- Zuschlagskriterien: 50% Technik, 10% Nachhaltigkeit, 40% Preis