Bekanntmachungs-ID: c01758ed-e3e2-4c5d-822f-f5e97020511a
Finde und Verstehe Ausschreibungen 3x schneller
Erstellen Sie ein kostenloses Konto oder melden Sie sich an, um Ausschreibungen in Ihrer Liste zu speichern.
"Tender Zen hilft uns, relevante Ausschreibungen zu entdecken, die wir sonst verpasst hätten."
Die Fraunhofer-Gesellschaft beschafft ein feldfreies (ohne Immersionsoptik) fokussiertes Ionenstrahlsystem (FIB-SEM) in Kombination mit einem hochauflösenden Rasterelektronenmikroskop. Das System wird für die Strukturierung, Nanostrukturierung sowie Querschnitts- und Oberflächenanalyse von III/V-Halbleitern, LNOI, Polymeren und Resists eingesetzt. Zum Lieferumfang gehören optional eine 15-tägige Fortgeschrittenenschulung, ein Gasinjektionssystem sowie ein Softwaremodul zum Import von KLAF-Dateien. Die Anforderungen umfassen zudem die Einhaltung von Spezifikationen bezüglich Bodenvibrationen, akustischer Interferenzen und magnetischer Felder.
Beschaffung eines feldfreien FIB-SEM Dualbeam Systems inklusive Zubehör für die Nanostrukturierung und Analyse von Halbleitermaterialien am Standort Berlin.
Anforderungen an den Bieter
Besondere Bedingungen